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分立元器件测试仪西安天光测控技术有限公司

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    ST-SP 2000_5

分立元器件测试仪

可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数

(测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)

主极输出 2000V / 50~1250A,分辨率*高至1mV / 10pA

支持曲线扫描图示功能

应用领域

军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……

主要用途

⇒ 测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)

⇒ 失效分析(对失效器件进行测试,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 )

⇒ 选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

⇒ 来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

⇒ 产线自动化测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)

♦ 产品简述

  产品扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

     &#160,电 话:029-87309001
分立元器件测试仪西安天光测控技术有限公司

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